非接触式测厚仪（非接触式测厚仪怎么校准）

非接触式测厚仪

瑞士Coatmaster非接触式测厚仪找翁开尔，国内直销手持式、在线式和3D型的非接触测厚仪。

英国公司创新研发了一款非接触式薄膜测厚仪，专为避免对纸张等材料产生形变导致的测量误差而设计。其测量原理基于两个关键组件：激光传感器。这些传感器被安装在被测薄膜的上下两侧，通过一个稳固的支架确保它们的激光束能精确对准。

非接触式测厚仪有X射线测厚仪、Y射线测厚仪(主要有锯和钝两种)、超声波、红外线和激光测厚仪。前两种为放射线测厚仪，它们是根据一定能量的射线穿过钢板时，射线衰减强度与钢板厚度有一定关系的原理做成的。射线由射线源发出后、一般由下而上经钢板吸收一部分，剩下的被检测器接受。

薄膜测厚仪主要分为哪两类?

1、薄膜测厚仪的种类根据测量原理的不同，主要分为两大类：接触式薄膜测厚仪，其中又包括点接触式和面接触式两种。这两种方法都是直接与被测薄膜接触，通过精确测量接触点或接触面的厚度，以获取准确的数据。

2、接触式和非接触式薄膜测厚仪的字面区别就是一个需要接触被检测产品，另外一个就不需要。接触式仪器主要可以分成超声波和涂层两大类型，超声波仪器的远离就是使用探头发射的超声波脉冲到被检测产品当中，并在产品中传播，当到材料分界面的时候会被反射回探头这里。

3、涡流测厚仪、磁性测厚仪。涡 流测厚仪和磁性测厚仪一般都是小型便携式设备，分别利用了电涡流原理和 电磁感应原理。设备可用于各种特定涂层厚度的测量，但是用于测量薄膜、 纸张的厚度时有出现误差的可能。

4、测厚仪按照测量的方式不同，可大致分为：接触式测厚仪接触面积大小划分：点接触式测厚仪；面接触时测厚仪。非接触式测厚仪根据其测试原理不同，又可分为以下几种：激光测厚仪、超声波测厚仪、涂层测厚仪、X射线测厚仪、白光干涉测厚仪、电解式测厚仪、管厚规。

5、测厚仪的原理分类主要依据其测量方式，大致可以分为两大类：首先，是接触式测厚仪，它根据测量时的接触面积不同，又分为两种类型：点接触式测厚仪，这种仪器在测量时与被测表面只有一个点接触，适合于对精度要求较高的场合。

6、测厚仪有许多类型，大致分为：激光测厚仪，是一种非接触式的动态测量仪器。超声波测厚仪，凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。

非接触式测厚仪包含哪几种?

非接触式测厚仪有X射线测厚仪、Y射线测厚仪(主要有锯和钝两种)、超声波、红外线和激光测厚仪。前两种为放射线测厚仪，它们是根据一定能量的射线穿过钢板时，射线衰减强度与钢板厚度有一定关系的原理做成的。射线由射线源发出后、一般由下而上经钢板吸收一部分，剩下的被检测器接受。

非接触式测厚仪根据其测试原理不同，又可分为以下几种：激光测厚仪 超声波测厚仪 涂层测厚仪 X射线测厚仪 白光干涉测厚仪 电解式测厚仪 管厚规 测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。

测厚仪按照测量的方式不同，可大致分为：接触式测厚仪接触面积大小划分：点接触式测厚仪；面接触时测厚仪。非接触式测厚仪根据其测试原理不同，又可分为以下几种：激光测厚仪、超声波测厚仪、涂层测厚仪、X射线测厚仪、白光干涉测厚仪、电解式测厚仪、管厚规。

激光测厚仪，是一种非接触式的动态测量仪器。超声波测厚仪，凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。

X射线测厚仪 非接触式在线连续测量，X射线管作放射源，分单光束、双光束两类，测量范围0～15mm，可达50mm，设定精度为设定值的±0.1％，主要用于冷热轧、铝材轧制线上。微波测厚仪 非接触式在线连续测量，响应速度快，抗干扰能力强。

光学膜厚仪的使用及原理

测量原理概述如下：测量时，将可见光垂直照射在待测薄膜上。部分光线在薄膜表面反射，其余光线穿透薄膜并在薄膜与基片之间的界面反射。这两部分光线相遇时产生干涉现象。SpectraThick系列仪器便是利用这种干涉现象来准确测量薄膜厚度的。该系列仪器采用钨灯作为光源，提供400 nm至800 nm的波长范围。

测量原理如下：在测量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可视光，这时光的一部分在膜的表面反射，另一部分透进薄膜，然后在膜与底层 (wafer或glass)之间的界面反射。这时薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。SpectraThick series就是利用这种干涉现象来测量薄膜厚度的仪器。

薄膜测厚仪是一种利用物理或化学原理来测量薄膜厚度的仪器。常见的薄膜测厚仪有光学薄膜测厚仪、X射线薄膜测厚仪、电子束薄膜测厚仪等。这些测厚仪器通过不同的测量原理，如光学干涉、X射线衍射、电子束散射等，来获得薄膜的厚度信息。

台阶测量法使用原子力显微镜（AFM）与台阶仪（Profilometer）直接接触样品表面，检测其厚度和表面形态，适用于各种材料。干涉法（光学薄膜厚仪、白光干涉）通过分析薄膜厚度引起的光干涉条纹，测量薄膜厚度，特别适用于透明或半透明薄膜。激光测厚仪利用激光非接触式测量物体厚度，适用于实时监控薄膜厚度。

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